隨著能源轉型加速推進及車用電子技術持續精進，GaN（氮化鎵）功率元件與車用功率模組正迅速成為提升系統效能與穩定性的關鍵技術。如何精準量測熱阻、掌握失效機制，並有效預測模組壽命，已成為產品設計與製造過程中不可忽視的品質控管重點與產業關注焦點。
DEKRA iST德凱宜特受邀參加大塚資訊主辦的「高功率元件熱阻與壽命解析研討會：從失效分析到GaN與車用模組應用」（新竹場），零組件工程部謝博安技術經理將以「功率元件熱阻測試與功率循環」為主軸，系統性說明相關測試規範與熱阻量測技術，並分享實務應用經驗。研討會將提供由理論延伸至實務的全方位技術視角，無論身處研發、產品策略或可靠度管理階段，帶領來賓深入解析失效分析與壽命預測的核心關鍵，強化產品可靠度與市場競爭力。
—活動資訊—
- 時間：2025年6月20日 星期五 謝博安技術經理演講時段14：25 – 15：00
- 地點：新竹豐邑喜來登大飯店4F西館小宴會廳 (新竹縣竹北市光明六路東一段265號)
- 主辦單位：大塚資訊
