随着能源转型加速推进及车用电子技术持续精进，GaN（氮化镓）功率元件与车用功率模组正迅速成为提升系统效能与稳定性的关键技术。如何精准量测热阻、掌握失效机制，并有效预测模组寿命，已成为产品设计与制造过程中不可忽视的品质控管重点与产业关注焦点。
DEKRA iST德凯宜特受邀参加大冢资讯主办的「高功率元件热阻与寿命解析研讨会：从失效分析到GaN与车用模组应用」（新竹场），零组件工程部谢博安技术经理将以「功率元件热阻测试与功率循环」为主轴，系统性说明相关测试规范与热阻量测技术，并分享实务应用经验。研讨会将提供由理论延伸至实务的全方位技术视角，无论身处研发、产品策略或可靠度管理阶段，带领来宾深入解析失效分析与寿命预测的核心关键，强化产品可靠度与市场竞争力。
—活动资讯—
- 时间：2025年6月20日 星期五 谢博安技术经理演讲时段14：25 – 15：00
- 地点：新竹丰邑喜来登大饭店4F西馆小宴会厅 (新竹县竹北市光明六路东一段265号)
- 主办单位：大冢资讯
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