德凯宜特建置的电子显微镜(Scanning Electron Microscope, SEM) 属场发射型扫描电子显微镜，利用电子束扫描待测物表面，吸收讯号来呈现影像，并具放大倍率的特点，可对大多数样品的形态和表面结构进行观察。另外，此电子显微镜搭配能量散射X-ray谱分析(Energy Dispersive X-ray Spectroscopy, EDS)，能快速及有效率的对样品进行定性或半定量分析。

SEM能对样品表面和剖面(Micro Section)结构进行放大观察，特别是失效样品的微观分析，同时对样品表面进行EDS元素分析，可加速𨤸清失效现象的可能原因。

 
主要应用
  • 针对各种材料表面微结构观察
<表面锡晶格观察>
 
  • 组件组装前后焊点表面锡须生长以及测量
<锡须(whisker)观察及测量>
 
  • 镀层厚度测量
  • 组件和焊点剖面金相结构观察，如打线，孔洞，微裂和金属化合物
<介金属化合物(IMC)量测厚度>
 
  • 材料元素分析(EDS)
 
<EDS分析异物元素>

 


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