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高加速寿命试验稽核与筛选

HALT/HASA/HASS
详情 高加速寿命试验(Highly Accelerated Life Test-HALT/HASA/HASS)
加速应力试验源由(Accelerated Stress Test:简称AST/ALT),源起于1960年代美国因应太空计划对高可靠度的需求而被发展出来。随着科技高度发展及快速变化的市场需求,过去耗时的产品验证方式已逐渐无法应付如此快速变化的市场需求进而影响到产品于市场之竞争力,因此,如何快速且有效发现产品设计缺陷并于设计阶段加以修正为现今国内外各大厂之主要关键问题,亦即是HALT&HASS逐渐被重视的原因。

众所皆知,产品在设计阶段进行缺陷修正是极为容易的,在大量生产后进行缺陷修正则困难度相对提高。微利时代若产品在市场于保固期内出现缺陷则所花费成本与商誉损失将无法计算。因此1990年代后以美国为首的国际各大厂(包括hp、Dell、Cisco、Nortel、Tetronix、 Motorola等)均相继以HALT手法作为新产品开发阶段迅速找出产品设计及制造的缺陷同时改善缺陷已达降低保固期成本、增加产品可靠度并缩短产品上市时间。同时可利用HALT所发现之失效模式与相关资做为后续研发产品的重要依据。目前有航空电子、汽车及信息等高科技产业皆已投入HALT 领域之测试,并且已有相当成效。

高加速寿命试验( Highly Accelerated Life Testing –简称HALT)
高加速寿命试验,目的提升产品可靠性,试验目的以产品FAIL为前提,激发出设计上的缺陷,改善产品的设计,通常是开发初期的产品来进行测试。
主要程序为以下几个步骤:
温度阶梯试验 (Thermal Step Stress Test)
温度循环试验 (Thermal Cycling Test)
振动阶梯试验 (Vibration Step Stress Test)
复合式应力试验 (Combined Stress Test) 
 
 高加速应力稽核与筛选(HASA/HASS )
高加速应力筛选HASS(Highly AcceleratedStress Screen) 产线上100%的检测剔退不良的产品,找出infant failures 消除产线上制造的脆弱环结 但要先有做HALT找出条件,才能做HASS筛选产品

高加速应力稽核HASA(Highly AcceleratedStress Audit) 与HASS差别在非100%检测,用抽测方式进行 一样要先有做HALT找出条件,才能做HASA筛选产品 
 
  

HALT/HASS效益
  
利用高加速环境应力可快速将产品潜在缺陷激发出来并于设计阶段加以修正

   作为产品量产时之高加速应力筛选(HASS)及高加速应力稽核(HASA)规格制定之参考
   降低产品在市场之失效率及减少维修成本
   建立产品设计能力数据库,以作为研发依据并可缩短设计开发时间


机台规格
   Temperature:-100℃ to +200℃
   Temperature change rate:>50℃/minutes
   Axes excited:3 Linear, 3 Rotational
   Vibration frequency range: 2 Hz To 10 KHz
   Vibration level:Up to 50 GRMS
   Inside dimension: 136(W)*137(D)*91&139(H)/cm
   Vibration table : 122(W)*122(D)/cm

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