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扫描电子显微镜&X射线能谱分析(SEM&EDS)

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扫描电子显微镜&X射线能谱分析(SEM&EDS)具有景深大、放大倍率连续可变的特点,对各种试样的形态和表面结构进行观察。同时EDS能快速,有效的对样品进行定性,半定量分析。对试样表面和剖面结构进行放大观察,特别是失效样品的微观分析。同时对样品表面或者剖面进行成分元素分析 .


主要应用范围:

针对各种材料表面微结构观察

元器件组装前后焊点表面锡须生长以及测量

镀层厚度测量

元器件和焊点剖面金相结构观察。如打线,孔洞,微裂纹和金属件化合物

材料元素分析


案例分析:

 

                      锡晶格                                            锡须测量

 

            金属间化合物测量                                             芯片健合



              EDS 线扫描: 显示出每层的元素分布


            EDS 点分析: 分析异物元素

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