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落下实验

Drop Test
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落下试验(Drop Test)


落下试验之目的通常为模拟两种落下情况,一种为产品在运输过程中因装载或搬运不慎造成掉落地面所遭受之撞击,此种掉落环境通常产品为包装状态(Package),另一种环境系针对手持型产品(Hand Held Product)在未包装保护状态下因使用不当而使产品掉落地面产生撞击。

通常掉落高度大都根据产品重量以及可能掉落机率(drop probability)做为参考基准,但对于不同国际规范即使产品在相同重量下但掉落高度亦不尽相同,对于手持型产品(如手机、MP3等)大多数掉落高度大都介于100cm ~ 150cm不等,IEC对于≦2kg之手持型产品建议应满足100cm之掉落高度不可损坏,MIL则建议掉落高度为122cm,Intel对手持型产品(如手机)进行之调查则建议落下高度为150cm。
 
至于包装运输之掉落机率,美国于1979年即针对落下机率与产品重量之间关系进行调查发现:
    多数产品遭受由较低的高度掉落次数相当多,相对的由较高的高度掉落次数较少。
    集体式包装较单一包装掉落次数与机率较少。
    多数包装遭受dropped大都是在底部面,同时调查也发现在运送过程中底部遭受掉落碰撞机率几乎为总掉落机率与次数的50%以上,因此在包装设计上底部之缓冲保护为重要考虑因素。
 

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